Tối ưu hóa thông số công nghệ hàn điện tiếp xúc cho độ bền bám dính lớp đắp chi tiết trục

dc.contributor.author	Nguyễn Minh Tân, Lê Văn Thoài
dc.contributor.author	Đào Quang Kế, Hoàng Văn Châu
dc.date.accessioned	2019-04-04T09:09:28Z
dc.date.available	2019-04-04T09:09:28Z
dc.date.issued	2019-04-04
dc.identifier.uri	http://hpstin.vn:8080/xmlui/handle/123456789/2270
dc.description	- Nguồn trích: Tạp chí Cơ khí Việt Nam - Số trang: 31-39 - Chi tiết khác: Tạp chí Cơ khí Việt Nam số 10 năm 2018	vi
dc.description.abstract	Bài viết trình bày phương pháp thiết kế thực nghiệm Taguchi kết hợp phân tích phương sai (ANOVA) để tối ưu hóa thông số công nghệ cho độ bền bám dính khi phục hồi chi tiết thép C54.	vi
dc.language.iso	vi	vi
dc.subject	Hàn điện	vi
dc.subject	Độ bền bám dính	vi
dc.subject	Trục phục hồi	vi
dc.subject	Phương pháp Taguchi	vi
dc.title	Tối ưu hóa thông số công nghệ hàn điện tiếp xúc cho độ bền bám dính lớp đắp chi tiết trục	vi
dc.type	Article	vi