Tối ưu hóa thông số công nghệ hàn điện tiếp xúc cho độ bền bám dính lớp đắp chi tiết trục
Năm xuất bản
2019-04-04Metadata
Hiển thị đầy đủ biểu ghiTóm tắt
Bài viết trình bày phương pháp thiết kế thực nghiệm Taguchi kết hợp phân tích phương sai (ANOVA) để tối ưu hóa thông số công nghệ cho độ bền bám dính khi phục hồi chi tiết thép C54.